锡元素检测机构，锡含量测定实验室，出具CMA检测报告

锡（Stannum），元素符号为Sn，元素周期表第IV主族元素，相对原子质量为118.69，原子序数50。金属锡有灰锡（aSn）、白锡（βSn）和脆锡（γSn）3种同素异形体，其莫氏硬度仅为3.75，是柔软的金属之一，具有良好的展性，但延性差。常温下，金属锡主要以白锡形式存在，呈银白色；当温度低于13.2℃时开始转变为灰锡，在-30℃的温度下，晶型转变速度达到Zui大值，锡块迅速变成粉末，称为“锡疫”现象。

锡是一种略带蓝色具有白色光泽的低熔点过渡金属元素，在化合物内是二价或四价，不会被空气氧化，主要以二氧化物（锡石）和各种硫化物（例如硫锡石）的形式存在。在地壳中，锡的含量较低，平均含量只有0.004%。

锡被广泛应用于电子、信息、电器、化工、冶金、建材、机械、食品包装等行业。金属锡大量也是无毒的，简单的锡化合物和锡盐的毒性相当低，但一些有机锡化物的毒性非常高，尤其锡的三烃基化合物，这些化合物可以摧毁含硫的蛋白质，被用作船漆来杀死附在船身上的微生物和贝壳。

检测方法

1. 原子吸收光谱法(AAS)

AAS是一种常用的定量分析方法，适用于测定溶液中的锡含量。该方法基于样品中目标元素吸收特定波长的光线时的吸收现象。通过气体燃烧、高温干燥等预处理步骤将样品转化为可测量的形式。向样品中通入与目标元素波长相对应的光线，测量样品吸收的光强度，并与已知浓度的锡标准溶液进行比较来计算样品中锡的含量。

2. 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)

ICP-MS是一种高灵敏度的分析技术，适用于测定液体和固体样品中的锡含量。该方法将样品转化为带电粒子，使用质谱仪进行质量分析。ICP-MS具有广泛的检测范围和高分辨率，可以测定多个元素的含量。

3. X射线荧光光谱法(XRF)

XRF是一种非破坏性的分析方法，适用于固体和液体样品中的锡含量测定。该方法通过照射样品表面产生的X射线，测量样品中荧光光谱的特征峰强度来确定其中的元素含量。XRF具有速度快、操作简便的优点，并且能够测定多个元素。

检测标准

1、T/GDTL 005-2018 聚酯树脂锡元素限量及测试方法

2、KS D ISO 3111-2022 铜合金 合金元素锡的测定容量法

3、KS D ISO 3111-2002(2017铜合金化学分析方法容量法测定合金元素锡量

4、SN/T 2619-2010金属铬中铝、锑、砷、铋、铜、铁、铅、硅、锡杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

5、YS/T 1530-2022 高纯锡化学分析方法 杂质元素含量的测定辉光放电质谱法

6、KS D ISO 16918-1-2023 钢铁电感耦合等离子体质谱法测定九种元素 第1部分：锡、锑、铈、铅和铋的测定

7、KS D ISO 11438-4:2016镍铁用电热原子吸收光谱法对痕量元素含量 第4部分：锡含量的测定

8、KS D ISO 16918-1-2018 钢铁 -通过电感耦合等离子体质谱法测定九种元素 - 第1部分:锡 锑 铈 铅和铋的测定