高速串行LVDS信号质量测试，示波器测试lvds信号，lvds接口测试

高速串行LVDS信号质量测试，用于保证LVDS信号的正确传输

传统的并行式数据通信，即多通道数据与时钟分别传送，往往因为传输路径不一致而产生建立与保持时间违反。当速度增加时，准确控制传输时延显得异常困难，如今新型的数据通信都已经是串行了。从并行到串行的改变除了数据速率的提高以外，对于测试方法也提出了新的要求。 LVDS采用多对高速差分信号传输数据，数据速率可以从几百Mbps至几个Gbps。为了保证高速信号的传输，LVDS使用差分线提供双向数据收发，可以用比较小的信号摆幅提供更高的传输速率，差分线本身具有更好的抗干扰能力和更小的EMI，可以支持更长的电缆传输。由于LVDS的信号速率比较高，要对LVDS信号进行可靠的探测，对于示波器和探头的要求也非常高，通常测量要求使用2.5G~4G带宽的示波器。Agilent的DSO9000系列示波器由于具有很小的底噪声和触发抖动，平坦的带内频响特性和很小的Return Loss，非常适合于进行象LVDS这样的高速信号的测量。Agilent的DSO9000系列示波器还具有业内较深的存储深度（通道的内存可以到1Gpts），适合用于复杂事件的记录和分析。