DDR 眼图测试 DQ测试 DQS测试

2024-12-19 07:28 117.61.18.0 5次
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DDR 眼图测试 DQ测试 DQS测试
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ACT = ACTIVATE                        PREA = PRECHARGE ALL                           SRX = 自刷新推出

MPR = 多用处寄存器                 READ = RD,RDS4,RDS8                        WRITE=WR,WRS4,WRS8

MRS=模式寄存器集                   READ AP=RDAP,RDAPS4,RDAPS8               WRITE=WRAP,WRAPS4,WRAPS8

PDE=掉电进入                           REF=REFRESH                                           ZQCL=ZQ LONG CALIBRATION

PDX=掉电推出                           RESET=启动复位过程                                ZACS=ZA SHORT CALIBTATION

PRE=预充电                               SRE=自刷新进入

4、工作原理

在描述了上述的一些基本概念后,就可以对图1中的DDR3工作原理进行基本的描述了理解了。

芯片进入上电,在上电小为200us的平稳电平后,等待500usCKE使能,

在这段时间芯片内部开始状态初始化,该过程与外部时钟无关。在时钟使能信号前(cke),

必须保持小10ns或者5个时钟周期,还需要一个NOP命令或者Deselect命令出现在CKE的前面。

DDR3开始了ODT的过程,在复位和CKE有效之前,ODT始终为高阻。

在CKE为高后,等待tXPR(小复位CKE时间),开始从MRS中读取模式寄存器。

加载MR2、MR3的寄存器,来配置应用设置;使能DLL,并且对DLL复位。

接着便是启动ZQCL命令,来开始ZQ校准过程。等待校准结束后,DDR3就进入了可以正常操作的状态。

对于基本的配置过程,现在就可以结束了。下面,结合CH1的控制器FPGA,说明对DDR3相关的配置。

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公司简介北京淼森波信息技术有限公司(MISENBO)成立于2015年,是一家技术服务型公司,即为中小型、初创型企业提供硬件开发配套服务和硬件测试服务。主要业务有:高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。高速电路测试服务项目有:①SI信号完整性测试,主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MI ...
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