科士达蓄电池的失效有多种原因，大体可分为可逆失效与不可逆失效。Zui重要的一种可逆失效现象就是记忆效应，容量衰减的基本原因是浅度放电，长期过充电也使电池发生类似的可逆失效，若在高温下工作会加速这种容量损耗。这种失效通过几次深度恢复循环可恢复其额定电压和期望的容量。不可逆失效起因主要有二：短路和电解液损耗。密封电池在18~30°C间寿命和特性。温度较高会使隔膜损坏并增加短路的可能性，因而减少寿命，较高温度下还会使水分通过密封圈迅速蒸发。这种原因引起的容量和电压损耗不可恢复1131.1记忆效应的表现电池存在记忆效应，主要有以下几方面的表现：MH-Ni电池记忆效应的容量损失与放电深度有很大关系，如果终止电压控制在1.20V，则记忆效应的容量损失十分明显；若终止电压控制在1.10V~电池工业2.1Cd电极引起的原因Cd-Ni、MH-Ni电池仍有较大的剩余容量无法释放，认为这是由于Cd电极和Ni电极的变化引起的。
富液式吸附性隔板（HGM）这种隔板我国目前已经能够生产，它是在玻璃纤维中加入一部分憎水性能很强的PE纤维材料的隔板（为叙述方便，暂简称HGM）这样，由PE纤维之间形成的孔就具有很强的憎水性，它将“永远”不会被酸“浸占”永远“成为氧气传送的直接通道，不管电池是”富液“还是”贫液“。这就能够加速氧气的传递过程，减小电池的内压和析气7恒压充电3V充电20h，在此期间收集气体，每30min记录I、V析气量3结果与讨论和4（富液
+HGM4种电池以0.1C10恒流充放电曲线。恒压50V充电，玻璃纤维隔膜电池内压随时间的变化量，达到改善科士达蓄电池性能的目的。
Cd电极容量下降的另一个原因是由Barnard等人发现的，是由于在过充电过程中形成了Cd5Ni2i合金。过充电也容易使晶体增大，不仅降低了电极比表面积，而且易形成枝晶，刺穿隔膜，造成电池短路。另外，在充放电循环中，Cd（OH）的细粒覆盖于金属Cd的表面，因而阻止了来自电解液中OH+的供给，使非放电态金属镉逐渐积聚，导致电极另外，若Cd电极发生钝化，即使电位适当，金属Cd也不再继续被氧化，将使其容量发生损失。另一方面，由
我们知道，NKOH）与NiOOH分别有两种形态，a、（3和（3、Y型，它们的密度有很大差别，由的Bode图我们可以看出它们的密度及其之间的转化关系。流01C10放电曲线3.2和分别是以上4种电池以0.和0.01C10恒流过充电过程中电池析气量与过充电时间的关系曲线。由图
