FLIR X6530SC红外热像仪
中波制冷型红外热像仪
碲镉汞（MCT）探测器
像素分辨率：640 X 512
响应波段1.5-5.1um
超声驱动电动镜头
窗口模式下以高帧频传输
LCD触摸显示屏
电动滤光片转轮
连续非均匀校正和温度标定技术
支持用户自行标定温度曲线
FLIR X8000 Sc / FLIR X6000 Sc 技术参数
型号说明
X8400 sc
X6580 sc
X6570 sc
X6550 sc
X6530 sc
X6520 sc
成像性能
分辨率
1280 x 1024
640 x 512
640×512
640 x 512
640 x 512
640 x 512
帧频
106 Hz : 640x512
高达 3000 Hz : 1280x8
355 Hz : 640x512
高达 4500 Hz : 320x8
234Hz：640×512
高达14550 Hz：160×1
125 Hz : 640x512
高达 4011 Hz : 64x8
145Hz：640×512
高达3600 Hz：136×8
145Hz：640×512
光谱范围
7.7-9.3µm
1.5 - 5.1µm
7.7 – 9.3μm
1.5 - 5.1µm
1.5 - 5.1µm
1.5 - 5.1µm
机动化调焦机制
否
是
有
是
有
有
势阱容量
5.8 M 电子
6.5 M 电子
6.36 M电子
6.5 M 电子
6.36 M电子
6.36 M电子
数字数据流
- 同步以太网和Camera Link Base
- Camera Link Medium
- 同步以太网和Camera Link Base
千兆以太网和Camera Link
- 同步以太网和Camera Link Base
千兆以太网和Camera Link
千兆以太网和Camera Link
焦距
手动
USL 模式或手动
超声驱动电动调焦或手动调焦，自动对焦
USL 模式或手动
超声驱动电动调焦或手动调焦，自动对焦
超声驱动电动调焦或手动调焦
热像仪f/#
2.0
3
2.0
2.5
3.0
4.0
探测器
探测器类型
锑化铟（InSb）
锑化铟（InSb）
碲镉汞（MCT）探测器
锑化铟（InSb）
碲镉汞（MCT）探测器
碲镉汞（MCT）探测器
可操作性
>99.5%
>99.5%
> 99%
> 99.5%
> 99%
> 99%
测量
标准温度范围
+5℃至+300℃
+5℃至+300℃
+5℃至+350℃
+5℃至+300℃
+5℃至+150℃
+5℃至+150℃
可选温度范围
直至+3,000℃
从 -20℃
直至+3,000℃
较高+2500℃, 较低-80℃
直至+3,000℃
较高+2500℃, 较低-20℃
较高+2500℃,
较低-20℃
通用
探测器
探测器像元间距
15 µm
NETD
<25 mk（一般20 mk）
传感器的冷却
闭式循环旋转
电子业 / 成像技术
读出
快照数字（X8400sc/X6580sc） -快照模拟（X6550sc/X6540sc/X6530sc）
读出模式
异步集成并读取；异步集成读取
同步模式
IRIG-B；同步输入，触发输入
图像时间戳
内部 IRIG-B 解码器时钟 / TSPI准确时间戳
积分时间
500 ns 至全帧速率，带自动曝光
子窗口模式
用户自定义
动态范围
14-bit , 16 bits非连续接收
高清视频
DVI 1080p
命令与控制
以太网、Camera Link、可拆卸LCD 显示屏、WiFi
测量
精度
读数的 ±1°C 或 ±1%
校准
根据要求自定义校准
光学数据
滤波
4倍机动定位，带漂移补偿和自动识别
图像显示
热像仪显示
可拆卸触摸式LCD显示屏（800 × 480像素）
模拟调色板
可选 8 位
自动增益控制
说动、线性、感兴趣区域
显示叠加
温度测量 & 比例
图像分析
红外热像仪自主温度分析
一般参数
工作温度范围
-20°C 至 +50°C
冲击 / 振动
运行 15G, IEC 68-2-29 / 运行 2G, IEC68-2-26
电源
24 VDC
重量（不带镜头）
5.05 kg
尺寸（长x宽x高）
280 × 150 × 180 mm
基座
UNC 1/4”−20 + 3×M5 螺纹
