X 射线荧光光谱测试(X-Ray Fluorescence Spectrometry)是利用X 射线激发样品产生特征荧光 X 射线,通过分析荧光 X 射线的能量(定性)和强度(定量),确定样品中元素组成及含量的无损分析技术,适用于金属、矿石、塑料等固体 / 液体样品。
| 测试类型 | 具体方法(参照标准:GB/T 16597-2019《冶金产品分析方法 X 射线荧光光谱法通则》、ISO 14596-2007) |
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| 波长色散 XRF(WDXRF) | 1. 原理:用晶体色散荧光 X 射线,按波长分离;2. 特点:分辨率高(可区分邻近元素,如 Cr/Fe),适用于常量元素(含量≥0.1%)分析;3. 样品:固体样品需压片或熔融制样(如矿石熔融成玻璃片) |
| 能量色散 XRF(EDXRF) | 1. 原理:用半导体探测器直接测量荧光 X 射线的能量;2. 特点:速度快(1-5min / 样)、无需复杂制样(固体直接测),适用于微量元素(含量≤0.1%)快速筛查;3. 样品:固体、液体、粉末均可(液体需装样杯) |
| 检测项目 | 核心检测内容 |
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| 定性分析 | 1. 识别元素种类:根据特征荧光 X 射线的能量(如 Fe 的特征能量为 6.40keV,Cu 为 8.04keV)匹配元素周期表;2. 检测范围:通常覆盖 Na(11 号)-U(92 号)元素 |
| 定量分析 | 1. 标准曲线法:用已知浓度的标准样品建立 “荧光强度 - 浓度” 曲线,计算未知样品含量;2. 结果精度:WDXRF 相对误差≤1%(常量元素),EDXRF 相对误差≤5%(微量元素);3. 检出限:WDXRF 检出限≤1ppm,EDXRF 检出限≤10ppm |
| 样品要求 | 1. 固体样品:表面平整(无油污、杂质),尺寸适配样品台(通常≥10mm×10mm);2. 液体样品:无沉淀、腐蚀性,用聚丙烯杯封装;3. 粉末样品:需均匀混合、压片(压力≥20MPa) |