氧化铟锡方块电阻检测中心，氧化铟锡方块电阻第三方检测机构

氧化铟锡方块电阻检测是评估ITO导电薄膜电性能的核心技术，通过测量单位面积内的电阻值(Ω/□)，评估材料导电均匀性和品质，是平板显示、触摸屏等领域质量控制的关键指标。

检测范围

液晶显示器(LCD)用ITO玻璃、触摸屏用ITO导电膜、有机发光二极管(OLED)基板、太阳能电池透明电极、电子设备触控面板、汽车防雾玻璃涂层、智能窗户导电膜、平板显示面板、柔性显示电路、光学传感器导电层、电磁屏蔽材料、热镜涂层、建筑节能玻璃涂层、医疗设备触摸屏、航空航天透明导电材料

检测项目

方块电阻值测量、电阻均匀性检测、厚度测量、透光率测试、雾度测试、附着力测试、耐酸碱性测试、热稳定性测试、耐划伤测试、导电图案精度检测、绝缘电阻测试、表面平整度检测、抗氧化性能测试、弯折稳定性测试、电导率测试

检测标准

1、GB/T 33875-2017《透明导电薄膜 方块电阻测试方法》：规定四探针法测量ITO薄膜方块电阻的技术要求和测试程序。

2、GB/T 20510-2017《氧化铟锡靶材》：规范ITO材料的电阻率标准和测试方法，间接为方块电阻检测提供参考。

3、ASTM F1711-96(2016)《使用四探针法测量平板显示器制造用薄膜导体方块电阻的标准实施规程》：提供国际通用的ITO薄膜方块电阻测试方法。

4、IEC 62951-6:2019《半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性导电薄膜方块电阻测试方法》：适用于柔性ITO薄膜的方块电阻检测。

5、GB/T 1551-2018《硅晶体电学参数测量方法》：虽针对硅材料，但四探针测量原理适用于ITO薄膜方块电阻测试。

检测流程

1、沟通需求（在线或电话咨询）；

2、寄样（邮寄样品支持上门取样)；

3、报价（根据检测的复杂程度进行报价）；

4、签约（签订合同和保密协议）；

5、完成检测（检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，出具检测报告，售后服务）。

专业技术人才

拥有超过700名专业人员，其中技术团队90%以上毕业于国家“985”“211”等重点高校，具有硕士、博士学位。