光学轮廓检测，光学轮廓cma检测资质

清析技术研究院可提供相关检测服务，提供CMA/CNAS检测报告，实验室设施完备，有着强大的项目专家检测团队。

光学轮廓检测项目

三维表面结构检测：可测量粗糙度、波纹度、表面结构、缺陷分析、晶粒分析等。通过高精度测量，能获取物体表面详细的微观几何信息，例如在半导体制造中，可检测晶圆表面的粗糙度和晶粒分布情况，为后续工艺提供重要依据。

二维图像分析：能测量距离、半径、斜坡、格子图、轮廓线等参数。在机械加工领域，可对工件的二维尺寸和轮廓进行jingque测量，确保工件符合设计要求。

表界面测量：可测量透明表面形貌、薄膜厚度、透明薄膜下的表面。在光学元件制造中，能准确测量薄膜的厚度和表面形貌，保证光学元件的性能。

微电子及MEMS表征：可进行微电子表面分析和MEMS表征。在微电子和MEMS器件制造中，能对器件的表面和结构进行详细表征，提高器件的性能和可靠性。

台阶高度测量：可测量薄膜和厚膜的台阶高度。在微电子制造中，能jingque测量不同层之间的台阶高度，确保芯片的制造精度。

划痕及磨损检测：可定量测量划痕形貌、摩擦磨损深度、宽度和体积。在材料磨损研究中，能准确评估材料的磨损性能，为材料的改进和选用提供参考。

光学轮廓检测范围

材料领域：涵盖金属、半导体、薄膜、陶瓷、聚合物、光学元件等各种材料。例如在金属加工中，可检测金属表面的粗糙度和形貌；在薄膜制造中，能测量薄膜的厚度和表面质量。

行业领域：广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件检测、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件检测、MEMS器件检测、航空航天、科研院所等领域。

检测报告作用

1、为产品提供进出口服务。

2、为相关的研究论文提供数据。

3、控制产品品质，降低产品成本。

4、根据检测报告的数据，改进产品质量。

5、协助公检法部门对样品质量进行检测或成分化验。

检测周期

到样后7-10个工作日（可加急）