薄层电阻率测试，表面电阻率测试

薄层电阻（sheetresistance）是半导体膜或薄金属膜单位面积上的电阻。它是材料科学技术领域的一个名词，于2011年公布。

薄层电阻检测范围：

半导体，扩散层，金属线，石墨烯，铝，铜，电池片，基区，pcb，碳纳米管，微处理器，四探针，太阳能电池，半导体材料，硅片等

薄层电阻检测项目：

薄层电阻率测试，四探针薄层电阻测试，表面薄层电阻与表面电阻率测试等

薄层电阻检测标准（部分）：

1、GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层 电阻测定 非接触涡流法

2、GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法

3、GB/T 14141-1993 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定

4、GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法

5、SJ 20515-1995 金电镀层薄层电阻测试方法

6、GB/T 37152-2018 纳米技术 碳纳米管材料 薄层电阻

检测流程：

1、沟通需求：了解待检测项目，确定检测范围；

2、报价：根据检测项目及检测需求进行报价；

3、签约：签订合同及保密协议，开始检测；

4、完成检测：检测周期会根据样品及其检测项目/方法会有所变动，具体可咨询检测顾问；

5、出具检测报告，进行后期服务；

公司优势：

1、检测周期短

2、先进的仪器设备以及强大的工程师团队

3、独立的实验室，合理分工

4、签订保密协议，注重客户隐私

5、数据严谨：出具的报告经多层审核

以上是与薄层电阻检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。详情可以咨询工程师哦！