pct高压加速老化寿命试验

　　PCT(Pressure CookerTest)高压加速老化寿命试验是一种用于评估材料或组件在恶劣环境条件下的耐久性和稳定性的可靠性测试方法10。PCT试验箱通过模拟高温高湿的环境，对芯片等电子元器件进行压力加热处理，以观察和评估其在这种环境下的性能、可靠性和耐久性10。这种试验广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品的密封性能检测，测试其制品的耐压性和气密性。

　　PCT试验的目的是提高环境应力(如温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，以加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。PCT试验箱内胆采用圆弧设计，符合国家安全容器标准，可以防止试验结露滴水现象，避免产品在试验过程中受到过热蒸汽的直接冲击影响试验结果。

　　PCT试验箱具备多种安全保护装置，包括误操作安全装置、超压安全保护、超温保护、防烫伤保护和手动安全保护排压阀等，确保试验过程的安全性。PCT试验主要用于测试半导体封装的抗湿气能力，如果半导体封装不好，湿气会沿着胶体或胶体与导线架的接口渗入封装体内，导致故障。

　　PCT耐候试验箱(又称PCT高压加速老化试验机)主要用于测试半导体封装的湿气能力，广泛应用于线路板、多层线路板、IC、LCD、磁铁等产品的密封性能检测，测试其制品的耐压性和气密性12。PCT试验箱采用大容量水箱，试验时间长，不中断，并配备双层不锈钢产品架，可根据客户需求定制专用产品架。

　　PCT试验箱的工作原理基于高压环境下的物理和化学作用，加速产品内部材料的老化过程，包括氧化、水解、电化学反应等，从而影响产品的整体性能。PCT试验箱的主要用途包括产品研发、质量控制、可靠性评估和加速寿命测试等，广泛应用于电子电器、汽车、新能源和航空航天等行业。

　　PCT试验与HAST试验的主要区别在于，PCT试验箱的压力和湿度对应于特定温度下的饱和蒸汽压力，而HAST试验箱的温度、压力和湿度可以独立设定，不受饱和蒸汽压力和湿度的限制。PCT试验箱的湿度检测装置根据试验箱内真实环境通过干湿球对比显示和控制，确保了湿度的准确性

　北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所)，隶属于北京前沿科学技术研究院，为集体所有制单位，是以科研检测为主的化工技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合，发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准，成为第三方分析测试技术服务单位，旗下实验室机构获得CMA资质认证，开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持，被评为国家高新技术企业。

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