Omniscan X3 64相控阵探伤仪
OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScanX3外壳,其聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。
使用OmniScan X3 64探伤仪可以充分发挥64晶片相控阵探头的潜力,提高焦点处的分辨率。
向右滑动:使用32通道OmniScanX3探伤仪和64晶片探头(5L64-A32型号)获得的图像。这个S扫描是高质量图像,其分辨率反映了以下事实:只有中间32个晶片可用于聚焦法则。
向左滑动:OmniScan X364探伤仪使用一个全部64晶片孔径(5L64-A32探头)获得的图像,在焦点处提供了更好的PA分辨率,可使您更轻松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。