ATX200N氧化膜测厚仪概况
ATX200N氧化膜测厚仪配置嵌入式传感器，采用电涡流法，可用于无损测量非磁性基体上非导电涂层厚度，符合以下工业规范和标准： GB/T4957非磁基体上非导电覆盖层覆盖层厚度测量涡流法， JB/T8393磁性和涡流式覆层厚度测量仪 DINEN ISO 2178 ASTM B499 ;具有高精度、易操作、稳定，简单、可靠、可用于现场快速测量等特点，配置集成测量探头，可无损、快速、精密地进行非磁性金属表面非导电涂层厚度测量，易于操作，广泛应用于工业、船舶、桥梁、航空、工程、化工等领域。
ATX200N涂层测厚仪原理
ATX200N氧化膜测厚仪的工作原理是当测头靠近金属基体时，由于高频交变电流在线圈中产生了电磁场，金属基体会形成电涡流并对线圈产生反馈，随后通过测量反馈量的大小可推导出相对应的厚度值。测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
ATX200N氧化膜测厚仪仪技术参数
l 测量范围:0-1250um(0-50mil)
l 分辨率:0-999um;0.1um ≥1000um;1um
l 精度:≤100um;±2um 101-1250um;≤2.5%
l 数据存储:500 条
l 显示:带背光点阵液晶屏(128X64)
l 电源:1.5VX3(AAA 干电池)
l 使用温度:0-50°C
l 规格:128X51X31 mm
l 重量:110g
ATX200N氧化膜测厚仪基本配置
l 涂层测厚仪 | 1台 |
l 标准厚度片 | 5片 |
l 校准基体 | 1个 |
l AAA1.5V 碱性电池 | 3节 |
l 随机文件 | 1套 |
