OTP蓄电池6FM-38 12V38AH直流屏用

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阀控式密封铅酸蓄电池（VRLAB）伴随进口的国外电信设备一起进入中国市场已有约十年历史了，而今中国大陆及世界各地遍布VRLAB的生产厂家。

在实际应用当中，VRLAB不断出现新的问题，特别是VRLAB的使用寿命及安全可靠性始终是用户和厂家关注的焦点。笔者长期从事蓄电池的推广、销售、技术服务工作，现提出几点不成熟的想法仅供与蓄电池相关行业的技术人员及用户参考。 1VRLAB历史

UPS是不间断电源(UninterruptiblePowerSystem)的英文名称的缩写，它伴随着计算机的诞生而出现，是计算机常用的外围设备之一。实际上，UPS是一种含有储能装置，并以逆变器为主要组成部分的恒压恒额的不间断电源。UPS在其发展初期，仅被视为一种备用电源。后来，由于电压浪涌、电压尖峰、电压瞬变、电压跌落、持续过压或者欠压甚至电压中断等电网质量问题，使计算机等设备的电子系统受到干扰，造成敏感元件受损、信息丢失、磁盘程序被冲掉等严重后果，引起巨大的经济损失。UPS日益受到重视，并逐渐发展成一种具备稳压、稳频、滤波、抗电磁和射频干扰、防电压浪涌等功能的电力保护系统。

1982年，VRLAB诞生（其实初的碱性可充电电池等，早已具有阀控式功能）；1985年，美国GNB公司（现为Exide公司收购）开发、研制出大容量VRLAB，由于其免维护（不加电池水）、安全性好（无外逸气体）及紧凑设计（相对传统满液式开口电池，占地空间少），立刻受到电信行业的欢迎（电信行业的现代化电子设备对环境要求较高，而VRLAB可与电信设备同处一室）。

1995年，美国“费城科技”（PhiladephiaScientific）发表研究报告，建立了以电池水损失为VRLAB寿命的判定依据，即当VRLAB内10％的水分散失后，使电池实际容量降至额定容量的80％以下时，称电池的使用寿命已到期。

许多厂家接受了此标准，并根据此标准制造电池，加酸、加水及密封，以期达到20年设计寿命。

1995～1996年，欧美各国使用VRLAB的电信用户开始投诉VRLAB的可靠性不稳定，主要问题有浮充电流增大，极板腐蚀，容量下降，充电热失控及电池干涸。

1997年在布达佩斯（Budpest）电联会议上（TelesconConference）才发现VRLAB的电化学设计上有缺陷。电池失效问题很多是由于负极板自放电效应造成的。同样，氧气的循环复合可不必加电池水，但会引起自放电效应及容量下降，早期的VRLAB容量甚至降到65％Ce以下。

1998年之后，针对上述设计缺陷，许多厂家开发出了阀盖上加钯催化剂的新型VRLAB。

2000年，新型的添加催化剂金属钯的VRLAB大量问世，它改进了密封工艺，强化了壳盖设计，力图解决VRLAB负极板自放电，这一缩短电池寿命的根本缺陷。

造成电池故障的原因有： 

UPS蓄电池选择与配置。依据电池后备时间选择，如电池节数，电池组数，安时数等。 

电池的充放电次数。放电结束后电池应及时充电，否则会在电池极板上附着绝缘物体硫酸盐增大电池内阻，影响电池使用寿命。 电池的浮充和均充电压会影响电池内部产生的气体在负极板电解成水，腐蚀电池极板，将减低电池容量。 

电池的使用环境温度。电池寿命和温度的关系可参考如下规则，电池环境温度在摄氏25 度，每升高或降低10度电池寿命将减少一半。