将矿样送至远离现场的实验室检测,不但费时费力、成本昂贵,对于偏远的地方更加困难重重。奥林巴斯矿石分析仪的出现,让矿物元素分析工作变得异常方便、简洁。国内不少矿业公司都选择了奥林巴斯矿石分析仪Vanta来作为野外勘探工作的重要工具,不仅提高了工作效率,采矿的判断准确性也得以大幅度提升。
Vanta分析仪可用于分析铁矿石、锰矿石、镍矿石、金矿石、铜矿石等材料中铁、锰、磷、硅、铬、镍、钼、钒、钛、铝、铜、锡、铅、稀土、镁等多种元素的含量以及品位。可直接连接电脑打印测试结果且可保存日期及测试数据,具有大容量长效性的特点。
改进创新
从一次检测开始直到一百次检测，Vanta分析仪每次都能为用户提供相同的结果。
由于Vanta分析仪将Axon技术与新款四核处理器结合在一起使用，因而这款分析仪具有非寻常的响应能力，在操作性能上达到新的突破，可使用户在短时间内获得分析结果。Axon技术可使不同Vanta仪器的各次检测都具有非一般的高重复性能，因此无论用户使用的是哪台仪器，其一次检测与其后一次检测都会是相同的。
奥林巴斯新开发的Axon技术，提高了XRF信号处理的性能，可为用户提供重复性高的检测结果。Axon技术使用
专有的超低噪声电子设备，提高了X射线探测器的性能，在每秒钟之内可完成更高的X射线计数，从而可以快的速
度获得更可靠的结果。采用了Axon技术的分析仪，在每次检测之间和各个仪器之间，都具有极高的重复性，从而可使用
户对检测结果充满信心。Axon技术可以让您体验到不同以往的检测经历。
更高的X射线计数率可以转化为快、的检测结果，以及更低的检出限。一般来说，对一个探测器参数的优化（如：到峰值时间或计数率），会严重弱化其它一些参数（如：分辨率）。Axon技术限度地降低了这个问题的难度。Vanta分析仪可以处理更多的X射线计数，从而可以提供的结果。超低电子噪声的设计即使其到峰值的时间更短，Axon技术仍能提供优于其它XRF分析仪的分辨率，从而在优化分辨率方面完成了一项重大突破：可为用户提供接近于基本理论极限的分辨率。这种优质分辨率可使我们的设备清晰地分辨出聚拢在一起的众多的谱峰。在量化合金或地球化学样本及贵金属中的轻元素时，这个特性非常重要，因为在分析仪采用了Axon技术之前，要完成这类测量困难。已经申请了专利的重置计划可以提高检测量，降低探测器的停工时间Axon技术的创新特性是可使分析仪为探测器触碰到的更多X射线计数，大多数其它XRF分析仪不具备这个性能。专有的处理算法意味着可以快速地去除堆积计数（当两条或多条X射线同时碰撞到探测器时会出现这种现象。
