CLOCK Overshoot测试和Undershoot测试介绍 电源信号完整性测试
CLOCK Overshoot测试
设置触发模式为上升沿触发，在AUTO狀态下尽量向上调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single操作。预先按下single按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，通过在 Measure菜单选择上过冲测量项对波形进行测量。量测结果如下图所示，+超调为Overshoot测量值。分析波形，检查过冲是否符合芯片规范要求。
CLOCK Undershoot测试
设置触发模式为下降沿触发，在AUTO狀态下尽量向下调整触发电平，使之刚好能触发满足测试要求的相应的波形，调整好Scale， 进行single操作。预先按下single按钮，在信号输入端尽量靠近芯片管脚 测试，通过在 Measure菜单选择下过冲测量项对波形进行测量。量测结果如下图所示，-超调为Overshoot测量值。分析波形，检查过冲是否符合芯片规范要求。
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高速电路测试服务项目有：
①SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。
②PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。
③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、DisplayPort、PCIE。