复位信号质量测试
简述
单板复位电路设计是嵌入式控制系统中普遍采用的抗干扰措施，用于保证系统或电路在受到干扰的情况下，能够自动进行复位，从软、硬件错误中恢复正常的运行。目前实现WDT复位电路的形式有很多，如某些 CPU或其它器件内部也有自带的 WDT 复位电路，另外，还有纯软件的 WDT ，使用专用复位芯片的WDT 。
因复位电路是保证系统从崩溃中恢复的Zui后手段。故对复位信号的质量测试显得格外重要。对复位的触发信号，计数器的溢出信号以及复位信号均需进行测试。
测试方法
1) 测试单板复位信号的复位脉宽时，对低电平复位有效的信号，取下降沿触发，示波器时间刻度取100ms左右；对于上电复位信号，取Zui后上电的电源信号作参考，与复位信号一起测试；
2) 测试“ /MR ”信号时，分两种情况：在按键复位时，须观察“ /MR ”信号是否出现较长时间的负脉冲，这时取时间刻度为100ns，下降沿触发；在计数器溢出时，须观察“/MR ”信号是否满足输入低电平及低电平脉宽的要求，这时取时间刻度为4us左右，下降沿触发。垂直刻度一般取 1V 。
3) 测试 WDI 信号时，取时间刻度为 1s，注意观察“ WDI ”的脉宽是否满足计数器清零要求。
4) 测试“ /WDO ”信号时，测试时可通过使计数器溢出或 3.3V 拉偏进行测试，时间宽度也相应取窄一些 。
