对比试样校准概述
是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，标准试样/块校准方案，以便了解材料的厚薄规格，标准试样/块校准，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；
对比试样校准介绍
用来在线测量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，标准试样/块校准机构，目的是降低板厚的滞后调整时间。
对比试样校准使用注意事项
1.在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2.在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4.在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
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